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知识路径： > 计算机软件与网络基础知识 > 嵌入式系统 > 嵌入式系统软件开发环境 > 调试方法 >
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相关知识点：5个
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片上调试（In Circuit Debugger，ICD）是CPU芯片内部的一种用于支持调试的功能模块。按照实现的技术，ICD可以分为仿调试监控器、后台调试模式（Background Debugging Mode，BDM）、连接测试存取组（Joint Test Access Group，JTAG）和片上仿真（On Chip Emulation，OnCE）等几类。
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目前使用较多的是采用BDM技术的CPU芯片。这种芯片的外面没有跟调试相关的引脚，这些引脚在调试的时候被引出，形成一个与外部相连的调试接口，这种CPU具有调试模式和执行模式两种不同的运行模式。当满足了特定的触发条件时，CPU进入调试模式，在调试模式下，CPU不再从内存中读取指令，而是通过其调试端口读取指令，通过调试端口还可以控制CPU进入和退出调试模式。这样在宿主机上的调试器就可以通过调试端口直接向目标机发送要执行的指令，使调试器可以读／写目标机的内存和寄存器，控制目标程序的运行以及完成各种复杂的调试功能。
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该方法的主要优点是：不占用目标机的通信端口等资源，调试环境和最终的程序运行环境基本一致，无须在目标机上增加任何功能模块即可进行；支持软、硬断点，支持跟踪功能，可以精确计量程序的执行时间；支持时序逻辑分析等功能。
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该方法的主要缺点是：实时性不如ICE法强，使用范围受限，如果目标机不支持片上调试功能，则该方法不适用；实现技术多样，标准不完全统一，工具软件的开发和使用均不方便。
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