故障衡量
考试要求: 掌握     
知识路径:  > 嵌入式系统硬件基础知识  > 电子电路设计  > 电子电路设计基础知识  > 电子电路可靠性设计  > 电子电路可靠性设计


 
       对于大多数电子设备来说,故障率是一个常数。一般来说,嵌入式设备的故障率会在设备运行初期较高,然后随着易损元器件被非易损替换,故障率会逐步下降。随着设备运行,并逐渐接近使用寿命,元器件会开始损耗,同时腐蚀率会升高,从而导致故障率会再次升高。所以通常会用某一方式衡量可靠性。
       在确定时间内的故障率的倒数就是通常所指的平均故障间隔时间(Mean Time Between Failures,MTBF)。一般用小时表示,而故障率使用每个小时故障的次数进行表示。MTBF通常与运行周期无关,可以方便地表示可靠性。
       MTBF通常描述可以修复的设备的可靠性,而对不可以修复的设备,则无法使用该指标衡量。因此对于不可修复设备,一般使用平均失效时间(Mean Time To Failure,MTTF)来表示可靠性。一般的工厂生产该类设备时,会使用抽样调查的方式进行寿命测试,以此来估算MTTF。
       对于可靠性,还有一个评价指标是可用性,表示系统工作的总时长中,正常可用的时间所占的比例,即一个设备正常服务的时间与正常和故障总时间的比值。通常可表示为U/(U+D),其中U表示正常运行的时间,D表示故障的时间。
 

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