边界扫描与JTAG-软考在线

边界扫描与JTAG



考试要求：掌握

知识路径： > 嵌入式系统硬件基础知识 > 电子电路设计 > 电子电路测试基础知识 > 电子电路测试方法 > 电子电路测试方法

通常来说，数字电路的测试会较为复杂。由于许多数字电路本身太过于复杂，常规的测试无法有效的进行。成百上千个测试点，外加各类IC复杂的逻辑与状态无法使用简单的电气特性测试来测试，因此边界扫描和JTAG能够较为有效地进行测试。边界测试是常见的硬件测试方式，而JTAG则是嵌入式中最常用的方式，它利用与IC芯片内部调试模块进行通信的方式进行调试与测试。

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